Insbesondere interessiert mich, in welchem Dokument beschrieben ist, wie Test, Reset und Quarz beschaltet werden sollen.
Tja, das muß man sich leider ein wenig zusammensuchen. Eine Reset-Beschaltung mit Anmerkungen gibts zum Beispiel in der Appnote "slau157h". Die Kapazität für den Reset-Kondensator steht auf Seite 2-17 im User Guide. Die Beschaltung des Quarzes ist ja klar, die Kondensatoren richten sich nach dem verwendeten Quarz, die Pinkapazitäten stehen im Datenblatt des µC (nach "capacit" suchen), die zuschaltbaren Kondensatoren sind im User Guide im Kapitel 5 beschrieben.
Leider führt der mehrfach genannte Link http://focus.ti.com/lit/ug/slau157h/slau157h.pdf ins Leere. Wo kann man die denn finden?
http://www.lmgtfy.com/?q=slau157h Aber in dem von Christian genannten Dokument steht das gleiche drin, sogar mit weniger überflüssigem Kram drumherum. Hab meinen Bookmark direkt mal ausgetauscht. :)
Danke! Olimex hat an Test einen 62k Pulldown: http://olimex.com/dev/images/msp430-h2131-sch.gif Welchen Sinn hat der?
Dürfte relativ sinnlos sein, da der MSP intern einen Pull-Down an Test hat. Wobei es angeblich mal welche ohne internen Pull-Down gegeben haben soll.
Beim 2272/2274 muss man bissl aufpassen. Da war doch sowas blödes am JTAG Interface mit der SpyBiWire/JTAG Umschaltung....wenn ich mich recht erinnere, muss man auch bei 4-Wire JTAG den TEST Pin mit an den Debugger anschließen, damit der darüber erst mal mit einer bestimmten Sequenz den 4-Wire Modus aktiviert. Ich hatte damals bissl Schwierigkeiten mit dem Kerl....vielleicht hier nochmal schauen: Beitrag "Re: MSP430f2274 Programmieren"
Ja, Olimex zieht den Test auch immer auf den JTAG-Connector. Das hab ich dann also richtig abgekupfert ;-)
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