Wenn man auf den Seiten von Analog Devices und Texas Instruments nach "Reliability Data" sucht, findet man folgende Seiten: http://www.analog.com/en/quality-and-reliability/content/reliability-data/fca.html http://focus.ti.com/quality/docs/partnumsearch.tsp?templateId=5909&navigationId=11213&mtbfType=true Frage: Verstehe ich das jetzt richtig, dass bei denen in hunderttausenden von durchgeführten Belastungstests bis jetzt kein einziger IC versagt hat? "Number of Failures" ist nämlich immer 0.
Rem User schrieb: > Wenn man auf den Seiten von Analog Devices und Texas Instruments nach > "Reliability Data" sucht, findet man folgende Seiten: > > http://www.analog.com/en/quality-and-reliability/content/reliability-data/fca.html > http://focus.ti.com/quality/docs/partnumsearch.tsp?templateId=5909&navigationId=11213&mtbfType=true > > Frage: Verstehe ich das jetzt richtig, dass bei denen in > hunderttausenden von durchgeführten Belastungstests bis jetzt kein > einziger IC versagt hat? "Number of Failures" ist nämlich immer 0. Ich erlaube mir mal ein fettes Grinsen... Da die Hersteller die Testbedingungen definieren - was würdest Du denn erwarten? Übrigens sind die bei Analog angegebenen Sample Sizes und Testdauern ja auch nicht gerade gross, hunderttausende Belastungstests dürfte schon etwas hoch gegriffen sein. Wenn Du wirklich Daten zur Langzeitzuverlässigkeit brauchst hilft nur selber testen, unter Deinen Einsatzbedingungen - oder dem Hersteller Geld für solche speziellen Garantien geben.
Bei dem ersten Test geht es nur um den Waver. Bei den Tests der fertigen ICs kommen die mit einer Sample Size zwischen 45 und 77 auf 0 Quality Fail.
Rem User schrieb: > kein > einziger IC versagt hat? "Number of Failures" ist nämlich immer 0. Selbst wenn die IC-Ausfallwahrscheinlichkeit 0,000000... ist, heißt das noch nicht, daß Deine Schaltung richtig dimensioniert und aufgebaut wurde. Spannungen, Resonanzen, thermische Einflüsse, EMV ...
@ Jasch (Gast) >> Frage: Verstehe ich das jetzt richtig, dass bei denen in >> hunderttausenden von durchgeführten Belastungstests bis jetzt kein >> einziger IC versagt hat? "Number of Failures" ist nämlich immer 0. Ist doch gut. >Da die Hersteller die Testbedingungen definieren - was würdest Du denn >erwarten? Im gegensatz zu Politikern, Bankern und andeen Subjekten haben Halbleiterhersteller meist ein großes Interesse an der Wahrheit bezüglich der Qualität der Produkte. >Übrigens sind die bei Analog angegebenen Sample Sizes und Testdauern ja >auch nicht gerade gross, hunderttausende Belastungstests dürfte schon >etwas hoch gegriffen sein. Nö, sind sie nicht. Die Schieben einige tausend ICs durch die Tests, je nachTest 1000 Stunden und mehr. Da kommen einige hunderttaussend BEtriebsstunden zusammen. >Wenn Du wirklich Daten zur Langzeitzuverlässigkeit brauchst hilft nur >selber testen, Das ist oft ein Irrtum. Denn den Aufwand um Umfang für WIRKLICH aussagefähige Test können die meisten gar nicht betreiben. Das geht schon bei der Messtechnik los.
Falk Brunner schrieb: > @ Jasch (Gast) [...] >>Da die Hersteller die Testbedingungen definieren - was würdest Du denn >>erwarten? > > Im gegensatz zu Politikern, Bankern und andeen Subjekten haben > Halbleiterhersteller meist ein großes Interesse an der Wahrheit > bezüglich der Qualität der Produkte. Das ist wohl wahr, aber ob die auch ein Interesse haben die Ergebnisse einfach so auf einer Website zu veröffentlichen? Zumindest wenn die nicht signifikant besser als die Konkurrenz sind. >>Übrigens sind die bei Analog angegebenen Sample Sizes und Testdauern ja >>auch nicht gerade gross, hunderttausende Belastungstests dürfte schon >>etwas hoch gegriffen sein. > > Nö, sind sie nicht. Die Schieben einige tausend ICs durch die Tests, je > nachTest 1000 Stunden und mehr. Da kommen einige hunderttaussend > BEtriebsstunden zusammen. 100k Belastungstests != 100k Betriebsstunden, ich würde ersteres als 100k Bauelemente getestet interpretieren - was auch eine bessere Statistik ergäbe als z.B. 100 BE für je 1000h. Andererseits klar, 100k BE auf die Art zu vernichten, wer macht schon sowas? >>Wenn Du wirklich Daten zur Langzeitzuverlässigkeit brauchst hilft nur >>selber testen, > > Das ist oft ein Irrtum. Denn den Aufwand um Umfang für WIRKLICH > aussagefähige Test können die meisten gar nicht betreiben. Das geht > schon bei der Messtechnik los. ;-) Tja nun, das Leben ist keine Ponyshow, und wer solche Aussagen wirklich braucht muss halt die Zeit und das Geld investieren - sonst war es wohl nicht wirklich wichtig.
> Wenn man auf den Seiten von Analog Devices und Texas Instruments nach > "Reliability Data" sucht, findet man folgende Seiten: > > http://www.analog.com/en/quality-and-reliability/content/reliability-data/fca.html > http://focus.ti.com/quality/docs/partnumsearch.tsp?templateId=5909&navigationId=11213&mtbfType=true > > Frage: Verstehe ich das jetzt richtig, dass bei denen in > hunderttausenden von durchgeführten Belastungstests bis jetzt kein > einziger IC versagt hat? "Number of Failures" ist nämlich immer 0. Das ist schon möglich. Üblicherweise werden für die Herstellungstechnologie ausführliche Zuverlässigkeitstests durchgeführt, mit denen die Lebensdauer der einzelnen IC-Komponenten vorhergesagt werden kann. z.B. die Spannungsbelastbarkeit von dielektrischen Schichten, Strombelastbarkeit von Verdrahtungsebenen usw. Hier ist es leicht möglich, durch Temperatur- oder Spannungsskalierung beschleunigte Tests durchzuführen mit denen sich die Ausfallrate recht zuverlässig für die verlangten 20 Jahre vorhersagen lassen kann. Aus diesen Daten lassen sich danach die Anforderungen an die Schaltungstechnik zur Erreichung der geforderten Zuverlässigkeit von kompletten ICs ableiten. Ähnlich Tests von kompletten Schaltungen gestalten sich oft schwieriger, da Temperatur- und Spannungsbeschleunigung unvorhergesehende Wechselwirkungen zeigen. Möglicherweise sind unter den realistisch durchführbaren Testbedingungen daher keine Ausfälle zu beobachten. Allerdings ist zu beachten, dass daraus trotzdem kein Ausfallrisiko von 0%, sondern nur eine untere Grenze für die Lebensdauer ableiten lässt. Dazu werden beschleunigungsmodelle verwendet, wie bei AD dokumentiert: http://www.analog.com/en/quality-and-reliability/reliability-data/content/wafer-fabrication-data/fca.html Wie man hier sieht, ist beim extremsten Test nur ein Zeitbeschleunigungsfaktor (At) von 155 zu erreichen. Ein "Tottesten" ist damit unter realistischen Bedingungen kaum möglich.
http://www.google.de/url?sa=t&rct=j&q=&esrc=s&source=web&cd=8&cad=rja&ved=0CGUQFjAH&url=http%3A%2F%2Fsnebulos.mit.edu%2Fprojects%2Freference%2FMIL-STD%2FMIL-HDBK-217F-Notice2.pdf&ei=0mIgUsvhBI3Psga6n4CwAg&usg=AFQjCNHharE7cGItsxmJ6wEPvPOOs_DnSg&bvm=bv.51495398,d.Yms MIL Norm, da wird nach Erfahrungswerten eine voraussichtliche MTBF angegeben. Technologie und Gatteranzahl muss dafür aber bekannt sein.
Tim . schrieb: > Zeitbeschleunigungsfaktor (At) von 155 zu erreichen. Ein "Tottesten" ist > damit unter realistischen Bedingungen kaum möglich. Es nützt wenig, die Chip-Temperatur bis kurz vor die Schmelze zu testen, wenn später z.B. ein mechanisches Problem eine Undichtheit am Deckel verursacht...
oszi40 schrieb: > m . schrieb: >> Zeitbeschleunigungsfaktor (At) von 155 zu erreichen. Ein "Tottesten" ist >> damit unter realistischen Bedingungen kaum möglich. > > Es nützt wenig, die Chip-Temperatur bis kurz vor die Schmelze zu testen, > wenn später z.B. ein mechanisches Problem eine Undichtheit am Deckel > verursacht... Ja und? So etwas wird nicht über elektrische, sondern mechanische Spezifikationen definiert. Was hat das eine mit dem anderen zu tun?
Meine praktische Erfahrung in den letzten 30 Jahren mit ICs ist, dass sich die Qualität drastisch verbessert hat und es sehr ausgefeilte Test für die Qualifizierung und Qualitätstest gibt. ICs mit einfacher Komplexität erreichen 10 FIT(FIT= 1 Fehler in 1Mio. Betriebsstunden). Wenn das nicht so wäre, würde ein PC-Prozessor mit 10Mio. Transistoren kaum laufen! Auch setzt man heute Plastikgehäuse im militärischen Anwendungen ein, was vor 20 Jahren undenkbar war. Also, meiner Meinung nach ist Qualität eher kein Problem bei normaler Ware. Häufiger entstehen Problem durch kalte Lötstellen, falsche Handhabung(ESD) oder Betrieb ausserhalb der Spezifikation - und nicht zu vergessen sind die kleinen Strukturen im Nano- und Mikrometerbereich können nicht mehr die Störleistng vertragen wie vor vielen Jahren. Ohne Qualität in der Entwicklung und Produktion lassen sich hochkomplexe Integrierte Schaltungen mit Millionen von Transistoren nicht zu geringen Kosten herstellen.
Lange Rede, kurzer Sinn. Stichwort: Badewanne(nkurve). Ein Diagramm sagt mehr als 1000 Worte.
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