Hallo Leute, ich beschäftige mich im Moment mit Stromsensoren. Open-Loop und Closed-Loop Stromsensoren habe ich verstanden und dazu auch viele Erklärungen und Literatur gefunden. Allerdings finde ich zu Stromsensoren die auf dem Fluxgate-Prinzip (Saturationskern) beruhen weniger Literatur, deshalb hat sich mir das Funktionsprinzip noch nicht ganz erschlossen. Ist euch irgend eine Quelle bekannt in dem das Funktionsprinzip anschaulich erklärt ist? Grüße und Danke
Patrick L. schrieb: > Ist euch irgend eine Quelle bekannt in dem das Funktionsprinzip > anschaulich erklärt ist? Kennst du: http://www51.honeywell.com/aero/common/documents/myaerospacecatalog-documents/Defense_Brochures-documents/Magnetic__Literature_Technical_Article-documents/A_New_Perspective_on_Magnetic_Field_Sensing.pdf in eigenen Worten: der Witz bei Fluxgates ist, dass ein magnetisches Material in einem (selbst erzeugten) Wechselfeld ständig ummagnetisiert wird. Ist dem Wechselfeld ein externes Feld überlagert, dann "verschiebt" das die Magnetisierungskurve. Diese Assymetrie kann man mit Lockin-Techniken (im Artikel nennen sie es "phase sensitive detection") sehr empfindlich nachweisen (weil man bei diversen kHz arbeitet und damit aus dem 1/f-Rauschen vieler Komponenten rauskommt). Bei Magnetometern wird dann meinem (evtl. veralteten) Kenntnisstand nach das externe Feld meist kompensiert, und aus dem Kompensationsstrom wird die Feldstärke bestimmt. Ob man das bei Stromsensoren ebenfalls so aufwändig betreibt, weiß ich nicht.
Das Dokument sieht ganz interessant aus, werd ich mir mal ansehen. Das bedeutet das dieser Sättigungskern die magnetische Feldstärke H auswertet?
Die Fluxgate Sensoren werden in der Regel auch mit Kompensation, also als Nullinstrument betrieben. Messen tut man daher tatsächlich eher das H Feld als das B Feld.
Achim S. schrieb: > in eigenen Worten: der Witz bei Fluxgates ist, dass ein magnetisches > Material in einem (selbst erzeugten) Wechselfeld ständig ummagnetisiert > wird. Ist dem Wechselfeld ein externes Feld überlagert, dann > "verschiebt" das die Magnetisierungskurve. Diese Assymetrie kann man mit > Lockin-Techniken (im Artikel nennen sie es "phase sensitive detection") > sehr empfindlich nachweisen (weil man bei diversen kHz arbeitet und > damit aus dem 1/f-Rauschen vieler Komponenten rauskommt). Also soweit verstehe ich dass, allerdings scheint es da auch verfahren zu geben wo an den sättigbaren Feldsensor (Fluxgate-Sensor) ein Rechtcksignal angelegt wird. Siehe --> http://www.hg-electronics.de/downloads/LEM/Applikationsbroschuere_3rd_deutsch.pdf (Seite 29) Dann habe ich noch sowas gefunden: http://www.elektronikpraxis.vogel.de/sensorik/articles/424898/index2.html Wenn man sich dann aber wieder dieses Bild (http://www.elektroniknet.de/uploads/media_uploads/images/1316781599-39-ctsr-mess-stromwandler.jpg) ansieht, dann findet sich da kein Hinweis auf eine Rechtecksignal-Quelle. Also scheint es wohl verschiedene konkurierrende Verfahren zu geben. Welches Verfahren würde den jetzt bei dem Bild eingesetzt; das von dir beschriebene?
Je es gibt da 2 leicht unterschiedliche Verfahren um den Fluxgate Kern auszuwerten: einmal wird mit einem Sinus angeregt (meist Resonant) und dann per Lock-In Verfahren (also Linear) die 2. fache Frequenz ausgewertet. Das andere Verfahre macht die Anregung eher rechteckförmig und wertet die Zeiten für Nulldurchgänge aus. Das sind halt 2 mögliche Verfahren um die Verzerrungen der Wellenform auszuwerten. Die Frequenz im kHz Bereich nutzt man nicht nur wegen des 1/f Rauschens, sondern auch schon einfach weil die Induktionsspannung mit der Frequenz zunimmt.
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