Hallo zusammen, ich untersuche die Anstiegszeit eines MOSFETs. Laut Datenblatt beträgt sie 30ns, bei einem bestimmten Strom ID und einer bestimmten Spannung VDS. Bei meiner Messung war die Anstiegszeit doppelt so hoch. Ich habe viele Artikel über Gatespannung, Miller-Plateau usw. gelesen, aber ich habe es tatsächlich empirisch geschafft, die Anstiegszeit durch Erhöhung des Drainstroms zu reduzieren. Offenbar benötigte der MOSFET einen etwas höheren Strom, den ich durch Parallelschalten einer Pufferkapazität zur Spannungsquelle für kurze Zeit erreichte. Nun stellt sich die Frage, wie die Anstiegszeit mit dem Drainstrom zusammenhängt, und da bin ich hängen geblieben. Alles, was ich gelesen habe, besagt, dass die Anstiegszeit von der Gate-Spannung abhängt. Oder vielleicht gibt es etwas mit mehr Strom=mehr Ladungsträgheit im Kanal des Transistors. Wenn mir jemand ein paar Tipps geben kann, wäre ich sehr dankbar, denn im Moment habe ich einen Blackout und drehe mich im Kreis. Vielen Dank, Lora
Lora M. schrieb: > aber ich habe es tatsächlich empirisch geschafft, die Anstiegszeit > durch Erhöhung des Drainstroms zu reduzieren Zu hohe Leitungsinduktivität im Testaufbau ?
Lora M. schrieb: > Wenn mir jemand ein paar Tipps geben kann, wäre ich sehr dankbar, denn > im Moment habe ich einen Blackout und drehe mich im Kreis. Wie sieht denn den Testaufbau sowie der Messaufbau GENAU aus? Bei den Zeiten muss man wissen was man tut. Siehe https://www.mikrocontroller.net/articles/Oszilloskop#Tastk%C3%B6pfe_richtig_benutzen Zeig uns Schaltpläne und Bilder.
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